Metal ve Malzeme Analizi / XRF — X-Işını Floresans Spektrometresi
Maden arama, jeolojik keşif ve cevher kalite kontrolünde laboratuvar kalitesindeki elementel analizi doğrudan sahaya taşıyan Grafen Pencereli FAST SDD dedektörlü pXRF analizörü.
Çekirdek Teknoloji
Geleneksel Si-PIN sınırlarını aşan FAST SDD dedektör; hafif elementlerde ve nadir toprak elementlerinde sahada gerçek laboratuvar kalitesi sunar.
Teknik Veriler
| Parametre | Değer |
|---|---|
| Uyarım Kaynağı | Seramik paketli mikro odaklı X-ışını tüpü, Ag hedef, maks. 50 kV |
| Dedektör | Grafen Pencereli Optimize FAST SDD (veya Si-PIN seçeneği) |
| Element Aralığı | Mg (Z=12) → U (Z=92) — 25+ element |
| Analiz Yöntemi | Temel Parametreler (FP) + Ampirik kalibrasyon |
| Ölçüm Süresi | 1–60 saniye (matrise bağlı) |
| Batarya | 7.2V Li-ion, 6800 mAh — tam gün saha kullanımı |
| Ekran | Kapasitif dokunmatik renkli, gün ışığında okunabilir |
| Koruma | Anti-delinme pencere, IP54 |
| Sertifikalar | CE, RoHS |
Sık Sorulan Sorular
Cihazlarımız hakkında detaylı bilgi ve fiyat seçenekleri için hemen ulaşın. 25 yıllık tecrübemizle yanınızdayız.