EN Teklif İste →
Anasayfa › Ürünler › Partikül Analizi › Lazer Partikül Boyut Analizi › Bettersizer 2600E
Bettersize · Türkiye Yetkili Distribütörü

Partikül Analizi / Lazer Partikül Boyut Analizi

Bettersizer 2600E

Lazer Kırınımı
PIC-1 Dinamik Görüntüleme
Islak & Kuru Dispersiyon
ISO 13320 & 13322-2
92 Dedektör

Lazer kırınımı ve PIC-1 dinamik görüntüleme teknolojisini tek modüler yapıda birleştiren 2600E, 0,1–1.600 µm'de lazer kırınımı, 3.500 µm'ye kadar görüntü analizi yapar. Islak ve kuru dispersiyon seçenekleriyle geniş numune yelpazesine hitap eder.

Teklif İste → Teknik Özellikler
Bettersizer 2600E
🔬
0,1–1.600 µm
Lazer kırınımı ölçüm aralığı
📷
3.500 µm
PIC-1 modülüyle maksimum ölçüm
📡
92 dedektör
0,016°–165° saçılım açısı
🔷
24 parametre
PIC-1 şekil analizi kapasitesi
✅
ISO 13320
Lazer kırınımı standardı
✅
ISO 13322-2
Dinamik görüntü analizi standardı
💧
Islak & Kuru
Modüler dispersiyon desteği
🔬
Fourier + Ters Fourier
Patentli çift lazer optik tasarım
Bettersizer 2600E — Lazer Kırınım Sistemi ve Dispersiyon Üniteleri

Lazer Kırınım Sistemi

92 Dedektör, 0,016°–165° Açı Aralığı

İki patentli lazer kaynağına dayanan Fourier ve Ters Fourier optik tasarım, ileri, yanal ve geri açılarda toplam 92 fotodedektörle saçılan ışığı eş zamanlı yakalar. Nano ile milimetre ölçeğindeki partiküllerin tek geçişte doğru ölçümünü sağlar.

📡
Geniş Açılı Saçılım Algılama
0,016° ile 165° arasındaki açı aralığında 92 dedektör, dar ve geniş dağılımlı partiküllerdeki tepe noktalarını hassasça tespit eder.
🧠
Akıllı Kırılma İndeksi Hesaplaması
Optik özellikleri bilinmeyen numunelerin kırılma indisini hesaplar; bilinen referans verilerini doğrulayarak gerçek zamanlı boyut dağılımı sunar.
🔍
Yüksek Çözünürlük
Karışık numunelerdeki farklı boyut gruplarını tek seferde ayırt eder. Ölçüm eğrisindeki anlık değişimleri yakalar.
Bettersizer 2600E — PIC-1 Dinamik Görüntüleme Modülü

PIC-1 Dinamik Görüntüleme Modülü

Ölçüm Aralığını 3.500 µm'ye Taşır

PIC-1, lazer kırınımının 1.600 µm'lik üst sınırını 3.500 µm'ye uzatır. Çift kameralı yüksek hızlı sistem, numune hücresinden geçen partiküllerin canlı görüntülerini kaydeder ve 24 şekil parametresini anında hesaplar.

📸
Genişletilmiş Analiz Aralığı
Nehir tortusu gibi çok geniş dağılımlı numunelerin ölçümünü tek platformda mümkün kılar.
🔷
24 Şekil Parametresi
Dairesellik, konvekslik, küresellik dahil 24 boyut/şekil parametresi eş zamanlı hesaplanır.
👁
Büyük Partikül Tespiti
Numune içinde gizlenmiş aşırı büyük taneler, aglomeralar ve hava kabarcıkları yüksek hassasiyetle tespit edilir.

Sık Sorulan Sorular

Merak Ettikleriniz

Lazer kırınımı (LD) ile 0,1–1.600 µm, PIC-1 dinamik görüntüleme modülüyle birlikte 2,0–3.500 µm aralığı eklenir. Toplam ölçüm kapasitesi 0,1 µm'den 3.500 µm'ye kadardır. Islak ve kuru dispersiyon seçenekleri her iki aralık için de geçerlidir.

PIC-1, lazer kırınımının üst sınırını 1.600 µm'den 3.500 µm'ye uzatan dinamik görüntüleme modülüdür. Çift kameralı yüksek hızlı sistem, partiküllerin gerçek zamanlı görüntülerini kaydederek dairesellik, konvekslik ve küresellik dahil 24 şekil parametresi hesaplar. Lazer ölçümüyle eş zamanlı ya da bağımsız çalışır.

Islak dispersiyon için BT-802 (otomatik, sulu), BT-80N / BT-80N Pro (organik çözücü dayanımlı), BT-804 (küçük hacimli) seçenekleri bulunur. Kuru dispersiyon için BT-902 (otomatik, standart toz) ve BT-903 (20 mg gibi çok küçük numuneler) kullanılabilir. Tüm ünitelerin geçişi yazılım üzerinden yapılır.

Bettersizer 2600E; lazer kırınımı için ISO 13320, dinamik görüntü analizi için ISO 13322-2 standartlarına uygundur. Bu standartlara uyumlu raporlar yazılım tarafından otomatik üretilir.

Bettersizer 2600E, 0,1–1.600 µm LD aralığıyla yüksek hassasiyetli partikül boyutu ve şekli analizi sunar. 2600 Plus ise daha geniş bir lazer kırınımı aralığına (0,02 µm'ye kadar) ve daha ileri yazılım özelliklere sahip olan üst segment cihazıdır. Her ikisi de PIC-1 dinamik görüntüleme modülü ile kullanılabilir.

Optik özellikleri bilinmeyen numunelerde yazılım, kırılma indisini deneysel verilerden hesaplar veya referans değerlerle karşılaştırarak doğrular. Bu işlev Mie saçılma teorisi üzerine kurulu olup sub-mikron partiküllerde doğruluk oranını artırır.

Fiyat Teklifine mi İhtiyacınız Var?

Cihazlarımız hakkında detaylı bilgi ve fiyat seçenekleri için hemen ulaşın. 25 yıllık tecrübemizle yanınızdayız.

📞 +90 (216) 577 52 96 WhatsApp →